
用頻譜儀測試天線方法總結
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天線性能的主要參數有方向圖、增益、輸入阻抗,駐波比,極化方試等,用頻譜儀對單收天線主要是對天線水平、俯仰方向的兩個方向圖測試,根據方向圖3dB處的角度,推算出天線增益,包絡線法則驗證天線的性能。

時域技術在天線測量中的應用
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天線測試技術發展到目前,其測量方法已經涉及到頻域、時域、空域及數字域。但常用的測量方法仍然以頻域為主,而頻域測試的指標只是得到該指標對應于頻率的綜合響應,而無法分析和區分其他因素如接頭,傳輸線,饋電點,測試場環境反射對其影響和干擾程度,也難以去除這些影響測試準確度的干擾。

移動通信基站天線遠場測量最小距離準則
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天線方向圖遠場測量的收發距離在理論上需要達到無窮遠,以便發射源天線在被測天線口徑上的照射是理想的平面波,也即幅度均勻、相位同相。天線專業的實際應用中,幅度為了滿足一定的均勻性(也即錐削度)需要降低源天線的方向性或者增加測量距離;相位為了滿足一定的同相要求必需增加測量距離。遠場的最小距離準則主要是根據被測天線口徑上照射的相位差來確定,對于常規天線,普遍認為口徑照射相位差不得大于π/8弧度,根據這一原則,可以推導出收發天線的最小距離準則是R≥2D2/λ。

移動通信天線測試問題探討
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天線在移動通信系統中的作用好比人的眼睛和耳朵,好比足球隊的臨門一腳,其性能的好壞直接影響網絡覆蓋的效果,其可靠性屬于單點失效,會直接導致本扇區覆蓋失效。而如何準確的測試及評估天線性能,目前仍存在一些問題需要探討及優化。

八天線LTE系統測試挑戰
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TD-LTE、FDD-LTE和LTE-Advanced(LTE-A)無線技術使用了幾種不同的多種輸入多路輸出(MIMO)技術。鑒于MIMO系統的復雜性正在日益提高,因此相關的測試方法也將更具挑戰性。例如,當前已部署的MIMO技術利用兩具天線來改善信道性能。還有一些LTE社區已率先開始采用八天線技術來實現更高的性能。這些先進的技術將使測試方法的選擇變得更為至關重要。

微波通信工程中天線系統的校準技術
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在微波通信中,對于天線方位角的校準,傳統的方法是根據設計要求的角度,按經緯儀的指示來調整出天線的初始水平方位角和俯仰角度,然后兩微波站的天線輪流上、下、左、右轉動來捕捉對方的信號。1個天線有2個角度變量,即水平角和俯仰角,在兩個微波站間的2個天線要求校準其方位角度,共有4個獨立變量要校準。然而由于現場條件的限制,按經緯儀指示調整出來的方位角度與設計要求誤差較大,給調整工作帶來很大的困難,往往需要花上一兩天的時間才能完成。

基于PXI總線為的SAR天線平臺測試模塊設計
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PXI總線技術是NI發布的一種全新的開放性、模塊化的儀器總線規范,是PCI總線在儀器領域的擴展。它將CompactPCI規范定義的PCI總線技術發展成適合于試驗、測量與數據采集場合應用的機械、電氣和軟件規范。PXI總線與臺式PCI規范具有完全相同的性能,是在PCI總線內核技術上增加了成熟的技術規范和要求形成的。它通過增加用于多板同步的觸發總線和參考時鐘、用于進行精確定時的星形觸發總線以及用于相鄰模塊間高速通訊的局部總線來滿足試驗和測量用戶的要求。


天線測試方法選擇及評估
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對天線與某個應用進行匹配需要進行精確的天線測量。天線工程師需要判斷天線將如何工作,以便確定天線是否適合特定的應用。這意味著要采用天線方向圖測量(APM)和硬件環內仿真(HiL)測量技術,在過去5年中,國防部門對這些技術的興趣已經越來越濃厚。雖然有許多不同的方法來開展這些測量,但沒有一種能適應各種場合的理想方法。例如,500MHz以下的低頻天線通常是使用錐形微波暗室(anechoic…